Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Tanszék, Alkalmazott Biotechnológia és Élelmiszertudományi Tanszék, Környezeti Mikrobiológia és Biotechnológia Kutatócsoport
- Fémek, félfémek és vegyületeik
A hordozható XRF készülék jól használható in situ körülmények között fémtartalom meghatározásra, alkalmazása időt és költséget takarít meg a hagyományos, laboratóriumi analitikai vizsgálatok alkalmazásával szemben. Használhatjuk a műszert pontforrások lehatárolására, szennyezett területek nagy felbontású térképezésére, szennyezett talaj eltávolításakor lehatárolásra. A hordozható készülék alkalmazásának előnye, hogy lehetőség van több ponton mérni, így heterogén eloszlású szennyezettség esetén pontosabb képet kapunk a szennyezett területek elhelyezkedésére és a szennyezettség eloszlására.
talaj és egyéb szilárd fázisú minták fémtartalmának in situ, on site és laboratóriumi meghatározása
Csak összes fém tartalom meghatározására alkalmas, maximum 10-15%-os nedvességtartalmú talaj esetén mérhetünk megfelelő pontossággal, a mérés pontossága a mérési idő csökkentésével romlik (minimum 60-120 sec/minta szükséges)
Az XRF készülékkel mérhetünk in situ, közvetlenül, mintaelőkészítés nélkül. A mérés előtt, ha szükséges a növényzetet előzetesen eltávolítjuk, majd kézi kapával egyenes talajfelszínt alakítunk ki. A mérést egyenes talajfelszínen végezzük, melyre a készülék tökéletesen illeszkedik. A talaj és a készülék közé fémmentes műanyagzacskót helyezünk, ezzel megakadályozva a műszer szennyeződését. A műszert bekapcsolás után, minden esetben kalibráljuk. A mintákat azonos ideig mérjük, ezzel kiküszöbölve a különböző időtartamú mérések által okozott hibát. A mérés optimális hossza 60-120 másodperc. Minden esetben „mintakísérő lapon” feljegyezzük a mérési pont GPS koordinátáit, a helyszínről rövid leírást adunk és a mérési pontokról vázlatos térképet készítünk. On site ill. laboratóriumi körülmények között a talajmintát homogenizáljuk, szárítjuk, porítjuk, mintatartóba ill. műanyagzacskóba helyezve mérjük.
gyors eredmény, helyszíni mérés, sok ponton mérhetünk ez a szennyezett terület pontosabb lehatárolását teszi lehetővé, egyszeri beruházás után alacsony egy mérésére jutó költség,
a mérés pontossága és szórása a nedvességtartalom és a szemcseméret függvényében változhat
ötvözetek, műanyagok fémtartalmának meghatározására is alkalmas megfelelő kalibrációval
US EPA METHOD 6200
Tolner, M.; Nagy, G., Vaszita, E. and Gruiz, K.: In situ delineation of point sources and high resolution mapping of polluted sites by field-portable X-ray fluorescence measuring device. GREEN5 Conference, 1-4 July 2008
Kalniczy, D. J. and Singhvi, R.: Field portable XRF analysis of environmental samples. In: Journal of Hazardous Materials 83 pp. 93-122, Published by Elsevier Science B. V. 2001
Sarkadi, A.: In situ metal analysis by portable XRF device. MOKKA Conference, 15 June 2007, Budapest, Hungary